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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)

3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100 MHz 測(cè)試頻率
• 50/100 Mbps 數(shù)據(jù)速率
• 1024 數(shù)字通道管腳 (蕞高1280 數(shù)字通道管腳)
• 高達(dá)1024 sites 并行測(cè)試
• 32/64/128 pattern 記憶體
• 16M capture memory per pin
• 多樣化 VI 電源
• 彈性化硬體架構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel trim/match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• 高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
• 支援STDF工具
• 測(cè)試program/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
• AD/DA功能板卡 *可選配
• SCAN向量存儲(chǔ)深度(蕞高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測(cè)試功能可供記憶體IC用 *可選配
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 軟件介面與3380P/3360P相同
• 人性化的 Windows 7操作系統(tǒng)

 為因應(yīng)未來(lái)IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì)，Chroma以此發(fā)展方向提供新一代3380系列VLSI測(cè)試機(jī)臺(tái)，包含3380D、3380P、3380機(jī)型，根據(jù)不同的腳位數(shù)或并行測(cè)試(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測(cè)試解決方案。

此系列機(jī)型之一的VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380，具有蕞高1280數(shù)字通道管腳、256 VI、彈性化架構(gòu)、以及完整選項(xiàng)功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同測(cè)的市場(chǎng)驅(qū)勢(shì)，具備1024數(shù)字通道管腳可并行測(cè)試1024個(gè)晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC電源(VI source)外，彈性化可調(diào)整的架構(gòu)還可提供Mini & Macro LED驅(qū)動(dòng)IC、CMOS影像感測(cè)器(CIS)、及3D影像測(cè)試等解決方案；以利涵蓋更廣泛的IC測(cè)試功能與應(yīng)用范圍。

3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)可無(wú)縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins)，以因應(yīng)更高的產(chǎn)能需求。 3380系列VLSI測(cè)試系統(tǒng)無(wú)論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上，長(zhǎng)期以來(lái)皆已于中國(guó)市場(chǎng)獲得廣泛印證。

應(yīng)用范圍

• 微控制器單元 (MCU)
• ADC/DAC混合信號(hào)IC
• 邏輯IC
• ADDA
• ALPG
• Smart card
• Mini & Macro LED驅(qū)動(dòng)IC
• CMOS影像感測(cè)器 (CIS)
• 電源IC (Class D IC)
• 消費(fèi)性IC
• LED驅(qū)動(dòng)IC

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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)

3380P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

 主要特色：

• 50/100 MHz測(cè)試頻率
• 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
• 512數(shù)字通道管腳 (蕞高可至 576數(shù)字通道管腳)
• 并行測(cè)試可達(dá) 512 sites 同測(cè)數(shù)
• 32/64/128M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
• SCAN向量存儲(chǔ)深度(蕞高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測(cè)試選配供記憶體 IC用
• STDF 工具支援
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7 操作系統(tǒng)
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 軟件介面與 3380P/3360P 相同
• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

 為因應(yīng)未來(lái)IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更復(fù)雜功能的IC晶片，Chroma新一代VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高且功能更強(qiáng)大。

3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(cè)(HighParallel Test)功能，除內(nèi)建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測(cè)功能(512 I/O pin可并行測(cè)512 個(gè)測(cè)試晶片)，以因應(yīng)未來(lái)IC晶片更高的測(cè)試需求。

3380P同時(shí)具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設(shè)計(jì)及非常具競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)性?xún)r(jià)比。

3380系列VLSI測(cè)試系統(tǒng)無(wú)論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上，長(zhǎng)期以來(lái)皆已于中國(guó)市場(chǎng)獲得廣泛印證。

涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc

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3380D VLSI 測(cè)試系統(tǒng) 

 主要特色：

• 50/100 MHz測(cè)試頻率
• 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
• 256數(shù)字通道管腳
• 并行測(cè)試可達(dá) 256 sites 同測(cè)數(shù)
• 32/64/128 M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
• SCAN向量存儲(chǔ)深度(蕞高 2G bits/chain) *可選配
• ALPG 測(cè)試選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7 操作系統(tǒng)
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 軟件介面與 3380P/3360P 相同
• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

 為因應(yīng)未來(lái)IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì)，Chroma VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高，且功能更強(qiáng)大。

3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(cè)功能(High Parallel Test)，除內(nèi)建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外，更具備any-pins-to-any-site高同測(cè)功能(256數(shù)字通道管可并行測(cè)256個(gè)測(cè)試晶片)，以因應(yīng)未來(lái)IC晶片更高的測(cè)試需求。

3380D/3380P/3380系列同時(shí)具備機(jī)框式直流電源供應(yīng)的小型化、低耗能化設(shè)計(jì)及非常具競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)性?xún)r(jià)比。

3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)非常適合應(yīng)用于IoT相關(guān)的晶片測(cè)試，尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380 系列開(kāi)發(fā)至今，已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。

滿(mǎn)足晶片測(cè)試的各種應(yīng)用范圍

Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.

相容性治具解決方案

3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP

3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card

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